姓 名 | 谭阳红 | 性 别 | 女 | |||||||||||
是否博导 | 否 | 是否为两院院士 | 否 | |||||||||||
是否为外聘导师 | 否 | 外聘导师所在工作单位 | ||||||||||||
出生年、月、日 | 1971年9月25日 | 政治面貌 | ||||||||||||
最后学历 | 博士 | 最后学位 | 博士 | |||||||||||
本科毕业学校名称 | 湖南师范大学 | 所学专业名称 | 应用电子 | |||||||||||
硕士毕业学校名称 | 湖南大学 | 所学专业名称 | 理论电工 | |||||||||||
博士毕业学校名称 | 湖南大学 | 所学专业名称 | 电工理论与新技术 | |||||||||||
职 称 | 教授 | 获该职称年份 | 2008年1月 | |||||||||||
所在院系 | 电气与信息工程学院 | 行政职务 | ||||||||||||
参加学术团体及任职 | ||||||||||||||
硕士生导师首次上岗年、月 | 2005年9月 | 博士生导师首次上岗年、月 | ||||||||||||
所在一级学科名称及代码 | ||||||||||||||
所在二级学科名称及代码 | ||||||||||||||
主要研究方向 | 电路测试与故障检测、射频识别、智能信号处理 | |||||||||||||
是否跨学科招生 | ||||||||||||||
目前在研科研经费(万元) | 1.6 | |||||||||||||
近三年平均年科研经费(万元) | ||||||||||||||
其中09年招生数 | 3 | |||||||||||||
目前指导硕士生数 | 3 | 其中专业硕士学位人数 | 2 | |||||||||||
其中09年招生数 | 3 | |||||||||||||
1 Yanghong Tan,Yigang He,Yichuang Sun. Data-fused method of fault diagnosis for analog circuits. Analog Integr Circ Sig Process. ,Vol.61:87-92,2009. SCI源刊,SCI、SCIE、EI同时收录 2 Yanghong Tan ,Yigang He,Yichuang Sun. Minimizing Ambiguity of Faults and Design of Test Stimuli in Analogue Circuits with Tolerance. International Journal of Electronics,2010. in publishing. SCI源刊 3 Yanghong Tan,Yigang He,Cun Cui,Guanyuan Qiu. A Novel Method for Analog Fault Diagnosis based on Neural Networks and Genetic Algorithm. IEEE Transactions on Neural Networks.2008,Vol.57(11): 2631-2639. SCI源刊,SCI、SCIE、EI同时收录 4 Yanghong Tan,He Yigang.A novel method for fault diagnosis of analog circuits based on WP and GPNN. International Journal of Electronics,vol.95(05),2008.pp. 431 - 439. SCI源刊,SCI、SCIE、EI同时收录 5 Tan,Yanghong. He,Yigang; Fang,Gefeng,Hierarchical Neural Networks Method for Fault Diagnosis of Large-Scale Analog Circuits.Tsinghua Science and Technology,vol.12,SUPPL.1,July,2007,pp.260-265. EI收录. 6 Tan,Yanghong,He,Yigang;Liu,Meirong.Probabilistic neural network based method for fault diagnosis of analog circuits. Advances in Neural Networks - ISNN 2007 - 4th International Symposium on Neural Networks,pp. 570-579. EI、ISTP收录. 7 Tan Yanghong,He,Yigang. Fused method of fault diagnosis for analog circuits. Proceeding of IEEE CCSA2007,Jinan,China.pp.276-282. SCI收录 |
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